Schichtdicken-Messung

Sämtliche Schichtdicken- und Materialanalysatoren von RONTGENANALYTIK SYSTEME GMBH & CO. KG sind in der Lage, eine Vielzahl von Messaufgaben zu lösen.

Das Spektrum der Aufgaben in der Schichtanalytik reicht von simplen Einschicht-Applikationen aller gängigen (galvano-) technischen Beschichtungen bis hin zu 4-lagigen Mehrfachschichten. Auch Mehrschicht-Legierungsbeschichtungen können analysiert werden, wobei sowohl die Dicke als auch die Schichtzusammensetzung gemessen werden. Zum Beispiel kann eine 3-Element Legierungsschicht auf einer Zwischenschicht auf einem 5-Element Basismaterial gemessen und analysiert werden (z. B. Au-Cu-Cd auf Ni auf Cr-Ni-Fe Edelstahl). Da die Messaufgaben ständig erweitert werden, haben wir auf eine Auflistung möglicher Applikationen verzichtet, da sie schon morgen überholt wäre.